XTS X射线卷封及紧密度扫描仪

XTS X射线卷封及紧密度扫描仪系列，全球独家专利产品

SEAMscan XTS™ X射线紧密度扫描仪是一款全新的，无损伤且独立运行的二重卷封和卷封紧密度检测仪器。卷封结构原自然状态检测，系统提高精度，节约时间，节省大量的检测成本。

专为制罐商和罐装厂打造的SEAMscan XTS™拥有高分辨率的卷封检测和功能强大的紧密度自动检测系统，仪器结构紧凑，操作简便。

无损伤检测，节约大量的检测样品

SEAMscan XTS™不需要切割就能完整检测二重卷封内部结构尺寸。

SEAMscan XTS™仅不损伤检测样品的优势，就能为制罐商和罐装厂节约数以十万计的成本。经过二重卷封盖钩皱纹度（卷封紧密度），以及前面提到的卷封内部结构尺寸检测的产品，还能100%的用于销售。SEAMscan XTS™同时能达到FDA对二重卷检测的标准。

SEAMscan XTS也是一款能完全适应生产工厂环境的二重卷封检测工具，既实现从卷封外部评估二重卷封质量，又节约检测成本。

不再需要剥离拆卸卷封

世界首创，质检人员不再需要拆卸卷封来查看盖钩的皱纹度。SEAMscan XTS™ X射线紧密度扫描仪自动扫描全部盖钩的皱纹度，测量并报告客观的紧密度数值。

采用专利技术的SEAMscan XTS™ X射线紧密度扫描仪，无需人员参与检测，能耗更低，采用无损伤的X射线检测二重卷封内部结构。

“我们在20世纪90年代就能够通过我们的SEAMscan软件配合投影设备检测盖钩皱纹度”CMC-KUHNKE的CEO Alex Grossjohann说道,“但是那套系统仅看到从二重卷封上拆卸下来的盖钩的表面影像。XTS不单单是在不损伤卷封的情况下检测盖钩皱纹度，检测的详细程度也是比传统检测方式高出很多。”

不再评估紧密度，而是测量紧密度

人为错误已经成为过去——至少在二重卷封领域。

X射线紧密度扫描仪检测二重卷封结构尺寸，以及全球唯一的专利技术精确的测量卷封内部的皱纹度。盖钩皱纹度的检测结果会自动发送到电脑数据库，电脑可以实时显示卷封质量变化趋势分析结果。

转用的X射线穿过二重卷封，探测盖钩形状的微妙变化。电脑通过程序算法分析卷封内部各个部位的变化情况，以确定是否对卷封的密封情况造成影响。检测结果可以使紧密度百分比，亦或是皱纹度或紧密度平均值的形式显示。

通过行Virtual Seam Teardown™（卷封虚拟拆卸）功能，可以看到身钩和盖钩彼此叠接的真实情况，是以往无法想象的。